シート表面検査装置　PIE-650

PIE-650

シート表面検査装置

PIE-650は、データレート最大850MHzの高速スキャンカメラに対応し、連続して走行するシート状(WEB)のフィルム、金属箔、鋼板、紙、不織布などやガラス、積層板、樹脂、食品などの欠陥検出（シート検査）に対応するシート表面検査装置です。
高速かつ、高精細な欠陥検出で高い生産効率を実現、維持します。また、検査ニーズに応じたシステム構成で小規模システムから大規模システムまで柔軟に対応が可能です。

最大データレート850MHz高速ラインセンサカメラ対応

目的に応じたカメラが選択可能
データレート最大850MHz、画素数は、2000pixel～16000pixelラインセンサに対応します。
最大43台までのシステム構成に対応

　　　＊カメラ台数は、最大43台までのシステム構築が可能。運用に合わせた各種オプションにも対応しています。小規模から大規模システムまで柔軟性に富んだシステム構築が可能です。

操作性

欠陥マップ表示

リアルタイム表示
欠陥の分布や欠陥画像をリアルタイムで表示可能です。
マップと画像が連動
マップ上の欠陥を選択すると画像が連動して表示されます。

画像一覧表示

欠陥レベルを一覧表示
設定された欠陥レベルの一覧表示を行います。
検査中でも検査結果の閲覧、シミュレーションが可能です。

統計情報表示

統計をグラフ表示
検査結果の統計情報を数値で表示することができます。

ステージ機能

HIGH RESOLUTION STAGE 高分解能ステージ

高分解能カメラで高精度な欠陥検出
データレート最大850MHzの高速ラインセンサカメラによる高分解能欠陥検出が行えます。
高速生産ラインにも対応
高速ラインセンサ対応により、より高速な生産ラインにも対応できます。

PINHOLL STAGE ピンホール検査

ピンホール検出+サイズ判定
ピンホールの検出に加え、サイズ判定も可能です。

Special STAGE 特殊ステージ

デュアルラインセンサカメラ対応
1台のカメラで2ステージの検査が可能です。

欠陥検出例

新開発のアルゴリズムでさまざまな欠陥検出に対応
異物、ムラ、スジなど欠陥の他、地合の強い対象物の薄汚れも検出します

シミュレーション機能

複数のアルゴリズムを組合せ、しきい値や検出サイズの設定が可能です。
また、欠陥名称の設定ツールとして利用できます。

検査対象物	フィルム／ガラス／金属箔／積層板／樹脂／鋼板／紙／不織布／ゴム／食品など
欠陥種	異物／傷（キズ）／汚れ／汚点／黒点／ムラ／シワ／ストリーク／気泡／欠け／打痕／ピンホール／凹凸など

カメラ	2000Pixel～16000Pixelラインセンサカメラ（データレート40MHｚ～850MHz）カメラ接続数：最大43台まで
光源	ライン型LED照明／メタルハライドランプ／高周波蛍光灯／ハロゲンランプなど
画像処理部	標準11回路（オプション追加可能）／欠陥種分類（標準200種類）／欠陥レベル判定／周期、密集判定など
機能	シミュレーション機能／波形モニタ／蛇行補正／速度追従など
オプション	各種マーキング装置／搬送装置／遠隔診断機能など

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