平面枚葉検査装置　PIE-650M

PIE-650M

平面枚葉検査装置

PIE-650Mは、データレート最大850MHzの高速スキャンカメラに対応した、枚葉タイプの検査装置になります。
金属箔、鋼板、紙、不織布などやガラス、積層板、樹脂、食品、液晶パネルなどの欠陥検出に対応する検査装置です。
高速かつ、高精細な欠陥検出で高い生産効率を実現、維持します。
また、検査ニーズに応じたシステム構成で小規模システムから大規模システムまで柔軟に対応が可能です。

主な特長

複数の照明方式により多種の欠陥検出が可能となりました。（反射照明、透過照明など）
装置１台で、様々な欠陥検出が可能。効率的な検査が可能です。
分解能： 30μm（必要な分解能に応じて、システム提案が可能です。）
簡単操作（タッチパネル）
自由にカスタマイズ（設置スペース、ＧＵＩ）、追加の欠陥種類なども照明系のアレンジにて対応
ニーズに合わせたカスタム対応も可能。

操作性

欠陥マップ表示

リアルタイム表示
欠陥の分布や欠陥画像をリアルタイムで表示可能です。
マップと画像が連動
マップ上の欠陥を選択すると画像が連動して表示されます。

画像一覧表示

欠陥レベルを一覧表示
設定された欠陥レベルの一覧表示を行います。
検査中でも検査結果の閲覧、シミュレーションが可能です。

統計情報表示

統計をグラフ表示
検査結果の統計情報を数値で表示することができます。

検査対象物	液晶パネル／フィルム／ガラス／金属箔／積層板／樹脂／鋼板／紙／不織布／ゴム／食品など
欠陥種	異物／傷（キズ）／汚れ／汚点／黒点／ムラ／シワ／ストリーク／気泡／欠け／打痕／ピンホール／凹凸など

カメラ	6,000 pixel～16,000pixelラインセンサカメラ（データレート 160MHz～850MHz）
光源	ライン型LED照明など
画像処理部	標準11回路（オプション追加可能）／欠陥積分類（標準200種類対応可能）／欠陥レベル判定／密集・周期性判定など
機能	シミュレーション機能／欠陥座標情報マッピング機能／欠陥画像保存機能／統計情報機能／検査履歴閲覧機能／波形モニタ機能／速度追従機能／作業者管理機能／操作・異常ログ機能など
動作環境	温度：10℃～35℃ 湿度：20%～80%RH結露なきこと
オプション	外部入出力制御／各種マーキング装置／遠隔診断機能／操作画面分岐／オフライン検証用アプリケーション（履歴確認・欠陥検出シミュレーションが可能）／CSV（コンピュータバリデーション）対応など

・アイコンのファイルは個人情報の入力が必須となります。「選択する」をクリックしてください。
のアイコンの場合はファイル名をクリックするとダウンロードできます。
複数のファイルをダウンロードする場合、選択するボタンを押してください。（個人情報の入力が必要）

製品情報

主な特長

操作性

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