アルファベット部分の説明をご覧いただけます
A. 表面・裏面検査
ラインセンサカメラ、照明の最適化による欠陥検出
B. ピンホール検査
照明、カメラの最適化による、ピンホール検出、サイズ判定
C. 特殊ステージ
デュアルラインセンサカメラ対応による2ステージ分の検査
D. マーキング装置
カスタマイズ要望に応じたマーキング装置を提案させていただきます。
E. カスタムアプリケーション
欠陥マップ表示、画像一覧表示、統計情報表示、シミュレーション機能搭載。
お客様の運用形態に合わせた、最適な検査装置プログラムをご提案致します。
F. AI
欠陥検出率の向上のため、AI機能の提案もさせていただきます。
Product
製品紹介